產品信息
熱測試系統(tǒng)
詳細信息
當前電子產品的主要失效形式之一是熱失效(電子設備的失效有55%是溫度超過規(guī)定值引起的)。
我公司擁有一流的電子產品熱分析診斷的硬件設施,為企業(yè)全面提供熱分析解決方案、提升企業(yè)熱設計水平、優(yōu)化產品品質,促進電子產品的更新?lián)Q代,推動散熱技術的傳播,帶領整個電子產品熱設計行業(yè)跨入新領域。
電子產品表面灰度測量
Ø 主要技術指標:
傳感器:Pt100
控溫測溫精度:±0.10C
黑體空腔有效發(fā)射率:≥0.999
灰度測量精度:±1%
電子產品分布式溫度測試
Ø 主要功能:
測試組件各個位置的溫度值,并具有圖表顯示功能。
Ø 主要技術指標:
測溫點數(shù):16(可擴展至64)
溫度精度:±0.30C
SH261型環(huán)境試驗箱溫度范圍:-60~+1500C±30C
溫度上升時間:70分鐘之內從-600C上升到+1500C
溫度下降時間:70分鐘之內從+200C下降到-600C